장훈

전체 55건 중 31번부터 40번까지의 결과를 표시합니다.

2007

Conference

BIST와 블록단위 완전연관 BISR 코드 생성 도구

장훈

2007-05

Article

내장 메모리 자가 복구를 위한 여분의 메모리 분석 알고리즘

심은성 ;
장훈

2007-02
전자공학회논문지 - SD
대한전자공학회

Article

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ;
장훈

2007
전자공학회논문지 - SD
대한전자공학회

2006

Article

수정된 의사 무작위 패턴을 이용한 효율적인 로직 내장 자체 테스트에 관한 연구

이정민 ;
장훈

2006-08
전자공학회논문지 - SD
대한전자공학회

Conference

내장 메모리와 플래시 메모리를 위한 프로그래머블 메모리 내장 자체 테스트

장훈

2006-06
대한민국

Conference

Flash 메모리를 위한 programmable 자체 테스트 회로 구현

장훈

2006-06
대한민국

Conference

A minimized test pattern generation method for ground bounce effect and delay fault detection

Kim, M ;
Lee, J ;
Hong, W ;
Chang, H

2006

2005

Book

VERILOG HDL : 디지털 설계와 합성의 길잡이

장훈

2005-09
흥릉과학출판사

Book

컴퓨터 구조 및 설계 : 하드웨어/소프트웨어 인터페이스 [컴퓨터 파일]

장훈

2005-08
흥릉과학출판사

Article

여분의 메모리를 이용한 SRAM 재사용 설계 및 검증

심은성 ;
장훈

2005-04
한국통신학회논문지
한국통신학회

처음 이전 2 345 6 다음 끝

상세 보기

장훈

자료 필터

자료유형

발행연도

키워드

언어

BIST와 블록단위 완전연관 BISR 코드 생성 도구

내장 메모리 자가 복구를 위한 여분의 메모리 분석 알고리즘

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

수정된 의사 무작위 패턴을 이용한 효율적인 로직 내장 자체 테스트에 관한 연구

내장 메모리와 플래시 메모리를 위한 프로그래머블 메모리 내장 자체 테스트

Flash 메모리를 위한 programmable 자체 테스트 회로 구현

A minimized test pattern generation method for ground bounce effect and delay fault detection

VERILOG HDL : 디지털 설계와 합성의 길잡이

컴퓨터 구조 및 설계 : 하드웨어/소프트웨어 인터페이스 [컴퓨터 파일]

여분의 메모리를 이용한 SRAM 재사용 설계 및 검증