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유한상태머신의 완벽한 안정성 보장에 관한 연구
A Study on Insuring the Full Reliability of Finite State Machine
- 양선웅;
- 김문준;
- 박재흥;
- 장훈
초록
본 논문에서는 유한상태머신을 위한 효율적인 비주사 DFT (design-for-testability) 기법을 제안한다. 제안된 기법은 순차회로모델이 아닌 조합회로 모델을 사용한 ATPG를 수행하여 짧은 테스트 패턴 생성 시간과 완벽한 고장 효율을 보장한다. 또한 완전주사 기법이나 다른 비주사 DFT 기법에 비해 적은 면적 오버헤드를 보이며 테스트 패턴을 칩의 동작속도로 인가한다는 장점이 있다. 실험결과에서는 MCNC'91 벤치마크 회로를 이용하여 제안된 기법의 효율성을 입증한다.
키워드
FSM; DFT; Non-Scan; Reliability; FSM; DFT; Non-Scan; Reliability
- 제목
- 유한상태머신의 완벽한 안정성 보장에 관한 연구
- 제목 (타언어)
- A Study on Insuring the Full Reliability of Finite State Machine
- 저자
- 양선웅; 김문준; 박재흥; 장훈
- 발행일
- 2003-06
- 저널명
- 인터넷정보학회논문지
- 권
- 4
- 호
- 3
- 페이지
- 31 ~ 37
- 언어
- KOR
- 출판사
- 한국인터넷정보학회
- 발행국가
- 대한민국
- 분량
- 7 페이지
- ISSN
- P 1598-0170