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근거리 전자장 스캐닝 시스템의 잡음 대 성능 비 향상 기술
Enhancement Technologies of Signal-to-Noise Ratioin the Near-Field Scanning Systems
- 신영산;
- 이성수
초록
최근 전자파 적합성(EMC: electromagnetic compatibility)의 중요성이 매우 높아짐에 따라 칩 수준에서의 전자파 간섭(EMI: electromagnetic interference) 측정이 자주 요구되고 있다. IEC 61967 및 IEC 62508에서 규정된 근거리 전자장 스캐닝(NFS: near-field scanning) 시스템은 칩 레벨에서의 전자파 간섭을 분석하는 대표적인 방법이다. 칩이 점점 고속화되면서 근거리 전자장 스캐닝 시스템의 측정 주파수는 광대역화되어야 하지만 근거리 전자장 탐침(NFP: near-field probe)의 신호 대 잡음 비(SNR: signal-to-noise ratio)가 저하된다는 문제가 있다. 본 논문에서는 근거리 전자장 스캐닝 시스템에서 광대역 특성을 가지면서도 잡음 대 성능 비를 향상시키는 기술에 대해 살펴본다.
키워드
EMC; EMI; NFS; NFP; IEC 61967; IEC 62508
- 제목
- 근거리 전자장 스캐닝 시스템의 잡음 대 성능 비 향상 기술
- 제목 (타언어)
- Enhancement Technologies of Signal-to-Noise Ratioin the Near-Field Scanning Systems
- 저자
- 신영산; 이성수
- 발행일
- 2018-06
- 저널명
- 전기전자학회논문지
- 권
- 22
- 호
- 2
- 페이지
- 510 ~ 513
- 언어
- KOR
- 출판사
- 한국전기전자학회
- 발행국가
- 대한민국
- 분량
- 4 페이지
- ISSN
- E 2288-243X
P 1226-7244