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Flash Memory Pattern Test를 위한 효율적인 알고리즘 연구
Research of Efficient Algorithm for Flash Memory Pattern Test
- 김태환;
- 장훈
초록
스마트폰, 태블릿 PC, 울트라북등 휴대기기 사용의 증가로 인해 NAND-형 Flash Memory의 수요도 지속적으로증가하고 있다. 그렇기 때문에 NAND-형 Flash Memory에서 발생할 수 있는 고장을 진단하기 위한 알고리즘 연구가 매우 중요하다. Flash Memory는 셀 배열구조에 따라서 NOR-형 Flash Memory와 NAND-형 Flash Memory로 구분이 된다. NOR-형 Flash Memory는 다양한 테스트 알고리즘과 BIRA(Built-in Redundancy Analysis)알고리즘, 진단 알고리즘 등 다양한 알고리즘 연구가 진행되어 왔다. 그러나 NOR-형 Flash Memory에서 연구되었던 이러한 알고리즘들을 이용하여 NAND-형 Flash Memory를 위한 고장을 확인하는 것이 매우 어렵다. 따라서 본 논문에서는 NAND-형 Flash Memory에서 발생할 수 있는 고장 확인이 가능한 정확하고 효율적인진단 알고리즘을 제안한다. 그래서 NAND-형 Flash Memory를 위한 고장 진단을 가능하게 한다.
키워드
NAND 플래시 메모리; 메모리 테스트; 메모리 고장; March 테스트; NAND Flash Memory; Memory Test; Memory Fault; FSM(Finite State Machine); March Test
- 제목
- Flash Memory Pattern Test를 위한 효율적인 알고리즘 연구
- 제목 (타언어)
- Research of Efficient Algorithm for Flash Memory Pattern Test
- 저자
- 김태환; 장훈
- 발행일
- 2016-12
- 저널명
- 한국차세대컴퓨팅학회 논문지
- 권
- 12
- 호
- 6
- 페이지
- 43 ~ 51
- 언어
- KOR
- 출판사
- 한국차세대컴퓨팅학회
- 발행국가
- 대한민국
- 분량
- 9 페이지
- ISSN
- P 1975-681X