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S-parameter의 변화를 유도하는 임피던스 변화 감지를통한 전자회로의 결함검출회로
The defect detection circuit of an electronic circuit through impedance change detection that induces a change in S-parameter
- 서동환;
- 강태엽;
- 유진호;
- 민준기;
- 박창근
초록
본 논문에서는 고장예측진단 및 건전성 관리 기법(Prognostics and Health Management, PHM)을 적용하기 위해 해당 시스템 혹은 회로 내부에서 결함특성을 감지하고 예측할 수 있는 회로 구조를 제안하였다. 기존 연구에서 회로 결함의 진행에따라, S-parameter 크기 최소값의 주파수가 변화하는 것을 확인하였다. 이러한 특성을 기존에는 네트워크 분석기(NetworkAnalyzer)를 활용하여 측정하였으나, 본 연구에서는 같은 결함검출기법을 활용하더라도 큰 계측장비 없이 결함의 진행상황및 잔여 수명, 결함발생 여부를 확인할 수 있는 소형화된 회로를 설계하였다. 본 연구에서는 S-parameter의 변화를 야기하는임피던스의 변화를 감지할 수 있도록 회로를 설계하였으며, Bond-wire의 온도반복에 따른 S-parameter 변화 측정결과를 제안하는 회로에 적용하였다. 이를 통해 해당 회로가 Bond-wire의 결함을 감지할 수 있다는 것을 성공적으로 검증하였다.
키워드
Defect detection; Impedance; Electronic Circuits; S-parameter; Prognostics and Health Management (PHM); Detection circuit
- 제목
- S-parameter의 변화를 유도하는 임피던스 변화 감지를통한 전자회로의 결함검출회로
- 제목 (타언어)
- The defect detection circuit of an electronic circuit through impedance change detection that induces a change in S-parameter
- 저자
- 서동환; 강태엽; 유진호; 민준기; 박창근
- 발행일
- 2021-12
- 저널명
- 전기전자학회논문지
- 권
- 25
- 호
- 4
- 페이지
- 689 ~ 696
- 언어
- KOR
- 출판사
- 한국전기전자학회
- 발행국가
- 대한민국
- 분량
- 8 페이지
- ISSN
- E 2288-243X
P 1226-7244