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RTL 회로를 위한 테스트 용이도 기반 비주사 설계 기법
A Non-Scan Design-For-Test Technique for RTL Controllers/Datapaths based on Testability Analysis
- 김성일;
- 양선웅;
- 김문준;
- 박재흥;
- 김석윤;
- 외 1명
초록
본 논문에서는 RTL 회로에 대한 테스트 용이도 분석방식과 테스트 용이화 설계 방식을 제안한다. RTL 회로에 대하여 제어도와 관측도를 분석하고 테스트 용이도를 높이기 위하여 테스트용 멀티플렉서의 삽입 위치를 결정한다. 그리고 삽입해야 할 테스트용 멀티플렉서의 우선순위를 결정하여 우선순위가 높은 몇 개의 테스트용 멀티플렉서만을 삽입한다. 제안하는 테스트 용이화 설계 방식은 우선순위가 높은 멀티플렉서만을 삽입함으로써 면적 오버헤드를 최소할 수 있다. 실험을 통해 주사 방식을 적용했을 때보다 적은 면적 증가율을 보이며, 높은 고장 검출율과 테스트 패턴의 효율을 얻을 수 있다. 그리고 주사 방식에 비해 테스트 패턴을 삽입하는데 필요한 시간이 적음을 확인하였다.
키워드
RTL; DFT; Testability; Testability; 테스트 용이도
- 제목
- RTL 회로를 위한 테스트 용이도 기반 비주사 설계 기법
- 제목 (타언어)
- A Non-Scan Design-For-Test Technique for RTL Controllers/Datapaths based on Testability Analysis
- 저자
- 김성일; 양선웅; 김문준; 박재흥; 김석윤; 장훈
- 발행일
- 2003-02
- 저널명
- 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론
- 권
- 30
- 호
- 2
- 페이지
- 99 ~ 107
- 언어
- KOR
- 출판사
- 한국정보과학회
- 발행국가
- 대한민국
- 분량
- 9 페이지
- ISSN
- P 1229-683X