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향상된 DFT 분석을 위한 MBIST 결함 정보 기록 시스템 설계
MBIST Fault Preservation System Design for Enhanced DFT Analysis
- 김범진;
- 이원영;
- 이성수
초록
현대 반도체 시스템에서는 초고집적화로 인해 테스트 중요성이 더욱 증가하고 있어서 DFT의 도입이 필수적이다. 특히 SoC에서는 메모리의 면적이 전체 칩 면적의 대부분을 차지하기도 하며, 메모리 신뢰성과 테스트가 중요한 과제이다. 공정 미세화와 집적도증가로 메모리 셀 결함 가능성이 높아지고, 이로 인해 데이터 손실 및 시스템 오작동 등의 문제가 발생할 수 있다. 이를 해결하기위해 MBIST 기술이 널리 채택되며, 결함 복구 메커니즘인 BIRA 및 BISR와 같은 중요 기능도 수행한다. 그러나 기존의 복구 메커니즘이 있어도 공정상 발생하는 결함은 해결되지 않는다. 본 논문에서는 MBIST를 통해 검출된 결함 정보를 정상 메모리 영역에 저장하고, 이를 공정 제조사에서 확인하여 결함 유형 및 위치 분석을 통해 수율 개선에 활용할 수 있는 구조를 제안하였다. 시뮬레이션 결과, 다양한 종류의 결함 정보가 정확히 저장되어 DFT 개선에 도움을 줄 수 있음을 확인하였다.
키워드
Design for Test; Memory Built-in-Test; Built-In Redundancy Analysis; Built-In Self-Repair; System-on-Chip
- 제목
- 향상된 DFT 분석을 위한 MBIST 결함 정보 기록 시스템 설계
- 제목 (타언어)
- MBIST Fault Preservation System Design for Enhanced DFT Analysis
- 저자
- 김범진; 이원영; 이성수
- 발행일
- 2025-06
- 저널명
- 전기전자학회논문지
- 권
- 29
- 호
- 2
- 페이지
- 231 ~ 237