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NAND Flash Memory Pattern Test를 위한 PMBIST
PMBIST for NAND Flash Memory Pattern Test
- 김태환;
- 장훈
초록
최근 새롭게 보급되는 휴대기기(스마트폰, 울트라북, 태블릿 PC)로 인하여 고용량과 빠른 속도를 원하는 소비자가 증가하고 있다. 이에 따라 Flash Memory의 수요도 지속적으로 증가하고 있다. Flash Memory는 NAND형과 NOR형으로 구분되어 있다. NAND형 Flash Memory는 NOR형 Flash Memory에 비해 속도는 느리지만 가격이 저렴하다. 그렇기 때문에 NAND형 Flash Memory는 Mobile 시장에서 많이 사용되어지고 있다. 그래서 Flash Memory Test를 위한 Fault 검출은 메우 중요하다. 본 논문에서는 Fault 검출 향상을 위한 NAND형 Flash Memory의 Pattern Test를 위한 PMBIST를 제안한다.
키워드
PMBIST(Programmable Memory Built-in Self Test); FSM(Finite State Machine); NAND Flash Memory
- 제목
- NAND Flash Memory Pattern Test를 위한 PMBIST
- 제목 (타언어)
- PMBIST for NAND Flash Memory Pattern Test
- 저자
- 김태환; 장훈
- 발행일
- 2014-01
- 저널명
- 전자공학회논문지
- 권
- 51
- 호
- 1
- 페이지
- 79 ~ 89