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순환 중복 검사를 통해 전송 오류를 검출하는차량용 반도체 직렬 인터페이스
Automotive Semiconductor Serial Interfaces with Transmission Error Detection Using Cyclic Redundancy Check
- 최지웅;
- 임형철;
- 양성현;
- 이동현;
- 이명진;
- ... 이성수
초록
본 논문에서는 차량용 반도체에서 CRC 검사를 통해 전송 오류를 검출할 수 있는 SPI 버스 및 I2C 버스를 제안한다. 차량용 반도체에서는 전송에 오류가 발생하여 잘못된 값이 전달되는 경우 치명적인 결과가 발생한다. LIN 버스, CAN 버스와는 다르게 SPI와I2C 등 구조가 간단한 직렬 인터페이스에서는 전송 오류를 검출하는 방법이 없기 때문에 직렬 인터페이스에 적용할 전송 오류 검출방법을 제시할 필요가 있다. 본 논문에서는 SPI 및 I2C의 통신 프로토콜에 CRC 검사를 사용하여 전송 오류를 검출하는 방법을 제시하고 이를 FPGA로 설계하여 효과적으로 오류를 검출할 수 있음을 검증하였다.
키워드
Transmission Error Detection; Serial Interface; Cyclic Redundancy Check; Serial Peripheral Interface Bus; Inter-Integrated Circuit Bus
- 제목
- 순환 중복 검사를 통해 전송 오류를 검출하는차량용 반도체 직렬 인터페이스
- 제목 (타언어)
- Automotive Semiconductor Serial Interfaces with Transmission Error Detection Using Cyclic Redundancy Check
- 저자
- 최지웅; 임형철; 양성현; 이동현; 이명진; 이성수
- 발행일
- 2022-09
- 저널명
- 전기전자학회논문지
- 권
- 26
- 호
- 3
- 페이지
- 437 ~ 444
- 언어
- KOR
- 출판사
- 한국전기전자학회
- 발행국가
- 대한민국
- 분량
- 8 페이지
- ISSN
- E 2288-243X
P 1226-7244